主要规格及技术指标

性能参数：采用 3ω测试方法；2. 温度范围：RT~500K；3. 测量范围：0.1-10W/（m?K）4. 测试薄膜样品最小厚度：10nm。尺寸参数：长宽高710 x 600 x 490mm

主要功能及特色

测试超薄材料的导热系数

主要附件及配置

本仪器专门为测量微/纳米薄膜材料热导率而设计，采用3ω测试方法，不直接测量温度变化，而是利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率，保证测量结果的高精确度。可在真空环境下测试，有效避免因环境温度变化和空气热传导而引起的测量误差